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隨著科學技術的不斷進步，掃描電子顯微鏡已經成為(wei) 材料科學、生命科學和各生產(chan) 部門控製質量環節中不可缺少的工具之一。
掃描電子顯微鏡是介於(yu) 透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段，主要用於(yu) 各種材料的微觀分析和成分分析。
掃描電子顯微鏡主要利用聚焦很窄的高能電子束來掃描樣品，通過光束與(yu) 物質間的相互作用，來激發各種物理信息，對這些信息收集、放大、再成像，以達到對物質微觀形貌表征的目的。
作為(wei) 顯微鏡家族中的後起之秀，掃描電子顯微鏡本身具有許多獨特的優(you) 點，發展速度非常快。掃描電子顯微鏡的分辨率較高，通過二次電子象能夠觀察試樣表麵6納米左右的細節，采用LaB6電子槍，可以進一步提高到3納米；掃描電子顯微鏡的放大倍數變化範圍，且連續可調，因此可以根據需要選擇大小不同的視場進行觀察，同時在高放大倍數下也可獲得一般透射電鏡較難達到的高亮度的清晰圖像。除此之外，掃描電子顯微鏡還具有觀察樣品的景深大、視場大，圖像富有立體(ti) 感，樣品製備簡單，可以通過電子學方法有效地控製和改善圖像質量以及可進行綜合分析等特點。
掃描電子顯微鏡的特點對於(yu) 改進合成條件，製備出具有優(you) 異性能的納米材料有很重要的指導意義(yi) 。掃描電子顯微鏡可直接觀察納米材料的結構、顆粒、尺寸、分布、均勻度及團聚情況，結合能譜還能對納米材料的微區成分進行分析，確定納米材料的組成。因為(wei) 納米材料的性質與(yu) 其組成和表麵形貌有很大關(guan) 係，利用掃描電子顯微鏡分析納米材料，可建立起納米材料種類、微觀形貌與(yu) 宏觀性質之間的聯係。而且掃描電子顯微鏡因其自身優(you) 勢也在物理學、化學、生物學、考古學、地礦學、食品科學、微電子工業(ye) 以及刑事偵(zhen) 查等領域被廣泛應用。
我們(men) 相信，隨著科學技術的進步，掃描電子顯微鏡也會(hui) 不斷發展，進一步擴展自身的應用範圍。
本文由石家莊槁城區興(xing) 安鎮中學高級教師崔會(hui) 欣進行科學性把關(guan) 。
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作者： 尹茹
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