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據英國《自然·通訊》雜誌3日發表的一篇醫學研究論文，中美科學家對一種名為(wei) “NanoVelcro”的芯片進行了大幅優(you) 化，新芯片包含很細的矽納米線，可針對胎盤植入譜係（PAS）疾病進行無創早期診斷，這種疾病會(hui) 導致孕產(chan) 婦在分娩中死亡。
胎盤植入譜係疾病包括侵入性胎盤、植入性胎盤、穿透性胎盤，具體(ti) 是指妊娠期間胎盤過度侵入子宮肌層，且在分娩時無法脫落。這會(hui) 造成嚴(yan) 重出血，甚至有時會(hui) 導致孕產(chan) 婦死亡。目前診斷該疾病的方法雖然也很有效，但有時依然會(hui) 出現不夠準確的情況，抑或是在資源匱乏的地區難以實現。
此次，包括美國加州大學洛杉磯分校、中國深圳人民醫院等機構研究人員在內(nei) 的團隊，對之前開發的“NanoVelcro”芯片進行了優(you) 化，新芯片包含很細的矽納米線，外部塗有能檢測循環滋養(yang) 層細胞（組成胎盤的細胞）的抗體(ti) 。這些細胞會(hui) 在胎盤發育過程中單個(ge) 或聚集脫落到母體(ti) 血液循環中，細胞數量的增加可能提示胎盤植入譜係疾病。
研究團隊對168位孕婦進行了血檢，有些孕婦被診斷出患有胎盤植入譜係疾病，有些被診斷為(wei) 胎盤前置（胎盤覆蓋宮頸內(nei) 口），有些胎盤形成正常。團隊發現，PAS組的單個(ge) 和聚集循環滋養(yang) 層細胞計數比其他兩(liang) 個(ge) 組更高。同時，研究還發現，單個(ge) 和聚集循環滋養(yang) 層細胞的數量，有助於(yu) 在妊娠早期將PAS從(cong) 前置胎盤和正常胎盤中區分出來。
研究人員指出，現在需利用更大樣本開展進一步研究。胎盤植入譜係疾病會(hui) 導致孕產(chan) 婦在分娩中出現非常嚴(yan) 重的狀況，而這種新的診斷技術則有望在不久的將來補充現有技術，提高妊娠早期診斷胎盤植入譜係疾病的準確性。
總編輯圈點
老話說，產(chan) 婦是“鬼門關(guan) 上走一遭”，隨著醫學不斷進步，孕產(chan) 婦生命已得到極大程度的保護。但胎盤植入，仍是產(chan) 科少見但非常凶險的並發症，如不及時果斷處理，依然會(hui) 危及產(chan) 婦生命。這一疾病在近年來發病率呈上升趨勢，因此我們(men) 很高興(xing) 看到，一種能及早診斷並阻止危險發生的技術手段，正走向實用。
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